XRD原位冷热台

简要描述：XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。

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一、仪器介绍：

XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。

适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上定制样品架进行适配。

二、仪器主要技术参数：

型号		CH600-190-XV	H1200-XV
温控模块	冷热方式	液氮致冷，电阻加热	电阻加热
	温控范围	-190～600℃ *	RT～1200℃ *
	温度稳定性	±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）*
	温度分辨率	0.1℃
	升降温速率	0~50℃/min（可定点 / 程序段控温）
	温控方式	PID
	温度传感器	PT100	热电偶
光学特性	光路	反射 *
	X射线透射膜	Kapton膜
结构特性	样品台尺寸	23×23mm *	12x12mm *
	样品台材质	银质 *	陶瓷 *
	外形尺寸	100×100×73mm *
	腔室	真空
	外壳冷却	循环水
基本配置	XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干
选配	电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板
备注	以上均为默认参数 * 为可定制项
其他可选型号	CH400-100-X（-100~400℃）

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