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一、仪器用途：
XRD原位冷热台是X射线衍射仪的一款多功能变温附件，可在-190℃至600℃或室温至1200℃的宽温度区间内，实现对样品结构的高低温XRD原位分析。
该设备支持在空气、惰性气氛或真空等多种环境条件下进行测试，适用于粉末、片状等不同类型样品在变温过程中的结构演变研究。同时，该冷热台具备良好的兼容性，可根据用户使用的X射线衍射仪型号（如布鲁克、赛默飞、理学等品牌）定制样品架，实现快速适配与集成。
二、仪器主要技术参数：
型号 | CKL600-190-XR | CKR1200-XR |
制冷方式 | 液氮制冷 | |
加热方式 | 电阻加热 | |
温控方式 | PID | |
温度传感器 | PT100/热电偶 | |
温控范围 | -190~600℃（可定制） | 室温~1200℃（可定制） |
控温精度 | ±0.1℃ | |
升温速率 | 0.1～20℃/min | |
降温速率 | 0.1～20℃/min | |
样品台尺寸 | 23×23mm | |
样品台材质 | 不锈钢 | |
X射线透射膜 | Kapton膜 | |
光路 | 反射 | |
外形尺寸 | 100×100×80mm | |
腔室结构 | 气密 | |
通讯接口 | 以太网（支持上位机软件控制） | |
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