透射偏光熔点仪 XPR-500C

简要描述：XPR-500C型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业常用的专业实验仪器。

产品型号：XPR-500C
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更新时间：2023-02-22
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详细介绍

一、仪器的主要用途和特点：
XPR-500C型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。

二、仪器的主要技术参数：

1.显微镜技术参数:

名称	参数规格
总放大倍数：	40X---630X
无应力消色差物镜	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65
	63X/0.85
目镜	WF10X/18mm
目镜	10X网格目镜 10X分划目镜 10X刻度目镜
试片	石膏1λ试片云母1/4λ试片石英楔子试片
测微尺	0.01mm
滤色片	蓝色
聚光镜	N.A.1.25带可变光栏摇摆式聚光镜
集光镜	高亮度固定式照明
载物台	直径160mm，360°高精度等分刻度圆型旋转载物台，游标格值6’，中心可调，带锁紧装置移动尺:移动范围30mm×40mm
镜筒	45度平拉式三目观察（52mm-75mm)
光源	卤素灯（6V/20W.AC 85V-230V）亮度可调
电脑摄像系统	CK-300数字摄像系统，分辨率：2040X1528，芯片尺寸：1/2"， USB2.0连接, 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CK-300摄像机介绍）

2. 偏光热台的用途：

CK-400型偏光热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。

加热台由精密温度控制仪和载物恒温工作台二部分组成，二者由一5芯线缆插口连接，载物恒温工作台置于光学或电子显微镜载物台上。特别适用配合偏光显微镜构成偏光熔点测量系统。

三、熔点仪技术参数:

1)输入电源：交流170~264V 50/60HZ 2)热台加热工作电源：直流 24V 5A

3)功耗：260W 4)温度范围：室温——420℃

5)热台外体最高温度：热体400℃;室温25℃时≤70℃ 6)工作方式：连续

7)热体最大载物重量：200克 8)精度：测量精度：全范围≤±0.5%

9)升温速度：室温——100℃ ≤80秒室温——200℃ ≤300秒

10)系统波动度：±1℃

11)升温速度达400℃时间: 10min

12)可设置升温速度范围：0.1——0.5秒/℃

13)即刻恒温响应时间： ≤0.1秒

14)加热板圆盘直径99mm；厚度12mm 15)有效加热范围41mm；通光孔直径3.8mm

四、系统组成:

1、偏光显微镜XPR-500　　 2、摄像机接口

3、彩色数字摄像机CK-300 4、偏光热台CK-400

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