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半导体冷热台

简要描述:半导体冷热台与各类显微镜、光谱仪、扫描电镜等光学仪器设备联用,进行变温下的光学观察及测试。 实现样品开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。

  • 产品型号:
  • 产品产地:
  • 更新时间:2025-03-17
  • 访  问  量:367

详细介绍

一、仪器介绍:

   半导体冷热台采用半导体冷热控制,配合循坏水散热,实现从-30~150℃(选型)的控温。可以实现变温光学测试,或者选配探针实现变温电学测试。

二、仪器主要技术参数:

 

型号

CKL120-30

CKL150-30

制冷方式

半导体

温控范围

-30~120℃

30~150℃

温度精度

±0.1

温度分辨率

0.1℃

加热速率

50℃/min

冷却速率

-40℃/min

样品台材质

铝合金

样品台大小

Φ16mm

振幅

≤2μm

通光孔直径

Φ2mm

正面观察窗大小

Φ18mm

物镜工作距离

3.5mm

X、Y轴移动距离

±6mm

位移分辨率

0.01mm

外观尺寸

140×95×20mm*

腔体净重

1kg

 

 

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