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一、仪器介绍:
半导体冷热台采用半导体冷热控制,配合循坏水散热,实现从-30~150℃(选型)的控温。可以实现变温光学测试,或者选配探针实现变温电学测试。
二、仪器主要技术参数:
型号 | CKL120-30 | CKL150-30 |
制冷方式 | 半导体 | |
温控范围 | -30~120℃ | 30~150℃ |
温度精度 | ±0.1 | |
温度分辨率 | 0.1℃ | |
加热速率 | 50℃/min | |
冷却速率 | -40℃/min | |
样品台材质 | 铝合金 | |
样品台大小 | Φ16mm | |
振幅 | ≤2μm | |
通光孔直径 | Φ2mm | |
正面观察窗大小 | Φ18mm | |
物镜工作距离 | 3.5mm | |
X、Y轴移动距离 | ±6mm | |
位移分辨率 | 0.01mm | |
外观尺寸 | 140×95×20mm* | |
腔体净重 | 1kg |
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