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一、仪器用途:
适合倒置显微镜使用,冷热台从正面装夹样品后,显微观察的时候倒置在载物台上。该型号冷热台的样品采用特殊的螺纹卡套结构固定样品。
二、仪器主要技术参数:
型号 | XDL190 | XDF30 |
制冷方式 | 液氮 | 半导体 |
温控范围 | -190℃~-300℃ | -30℃~-120℃ |
温度精度 | ±0.1 | |
温度分辨率 | 0.1℃ | |
加热速率 | 50℃/min | 50℃/min |
冷却速率 | -30℃/min | -40℃/min |
样品台大小 | Φ14mm | 30*30mm |
最大振幅 | ≤2μm | |
物镜工作距离 | 3.5mm | |
聚光镜工作距离 | 20mm | 12mm |
外观尺寸 | 100×145×43mm | 151×109×19mm |
腔体净重 | 0.9kg | 0.8kg |
配套 | 石英片、石英皿、聚四氟乙烯塞 |
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